TVXA-ENIF1 (SAXS) | 테크밸리 주식회사


Analysis X-ray

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X-ray 소각 산란 분석기
나노 구조 분석 장비

TVXA-ENIF1 (SAXS)

적용 가능 분야

  • Analysis
  • - X-ray 소각 산란 분석기 (Small Angle X-ray Scattering)
  • - 반도체 물질, 단백질, 약물 등 분석
  • - 나노 구조 분석 장비
  • - 크기, 크기 분포, 모양, 방향성
  • - 나노 물질, 나노 복합 재료, 고분자 분석

분석정보

제품사양

제품 사양
Incident beam Wavelength 1.54A / 8keV (Cu Kα)
Divergence ~ 0.4mrad FW20%M Both Planes
Beam size at focus 1.1 X 1.5㎟ at Mirror Exit
Distance Sample-to-Detector ~ 1.45 Meter
Slit Beam collimation 2 Sets of adjustable slits
Beam stopper Size 1.5 ~ 5Ø
Detector 2D-Positioning sensitive detector
Scattered beam Qmin
Beam flux at sample
position
(50kV, 0.6mA)
0.1076

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