최근 나노 소재의 활발한 연구와 본격적인 생산에 따라 구체적인 구조-물성 상관성 연구에 대한 필요성이 커지고 있습니다. 이를 위해 XRD, SEM, TEM 등 다양한 구조분석기기가 사용되고 있지만, 대상 스케일, 시료의 처리 상태, 데이터의 보편성 등에 대한 문제가 꾸준히 제기되고 있는 실정입니다. X-선 소각산란장치(Small Angle X-ray Scattering, SAXS)는 수 Å에서 수 백 nm 에 이르는 스케일에 대한 다양한 구조 정보를, 비파괴 방식으로 얻을 수 있기 때문에 기존의 기기에서 볼 수 없었던 많은 정보를 제공할 수 있어 최근 학계를 비롯해 기업체에서도 큰 주목을 받고 있습니다.

본 워크샵에서는 SAXS에 대한 기초 이론 및 대표적 사례 분석을 통해 다양한 분야에 대한 SAXS 적용 가능성을 살펴보고, 간단한 데이터 처리 실습까지 진행됩니다. 그리고 처음으로 국내에서 개발되고 있는 SAXS 장비에 대한 소개도 이루어질 예정입니다.